品牌：和晟【HESON】

型號：HS系列

品名：恒溫恒濕試驗設(shè)備

溫馨提示

產(chǎn)品圖片、屬性及價格等僅供參考，詳情請來電或旺旺咨詢！

產(chǎn)品用途：
   本系列試驗箱、高、低溫試驗箱能模擬各種溫濕度環(huán)境，適用于檢測電子、汽車、橡膠、塑料膠、金屬等產(chǎn)品滿足GJB150A3/4各種惡劣環(huán)境下的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)。將提供給您預(yù)測和改進產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性的依據(jù)。

可程式控制器：
●采用TEMI1500液晶顯示觸控式控制器，熒幕操作簡單，程式編輯容易。

韓國*TEMI1500彩色液晶顯示觸模式可程控制器,英文表示,高對比附可調(diào)背光功能之大型LCD液晶顯示控制器。

a.控制器規(guī)格:

精度:溫度±0.1℃＋1digit 、濕度±0.1%R.H＋1digit. 

分辨率:溫度±0.01,濕度±0.1%R.H.

溫度斜率:0.1～9.9可設(shè)定.

具有上下限待機及警報功能.

溫，濕度入力信號 PT100.

溫，濕度變換出力:4～20MA

9組P.I.D控制參數(shù)設(shè)定,P.I.D自動演算

  b.畫面顯示功能:

采畫面對談式,無須按鍵輸入, 屏幕直接觸摸選項

溫，濕度設(shè)定（SV）與實際（PV）值直接顯示

可顯示目前執(zhí)行程序號碼,段次,剩余時間及循環(huán)次數(shù)

運轉(zhuǎn)累計時間功能

溫，濕度程序設(shè)定值以圖形曲線顯示,具實時顯示程序曲線執(zhí)行功能。

具單獨程序編輯畫面,每頁可輸入5個段次溫度及時間。

中英文可任意切換。

屏幕可作背光調(diào)整。

屏幕顯示保護功能可作定時，TIMER或手動關(guān)閉設(shè)定.

                                                                     溫濕對照表

●具有RS-232通訊界面及連線軟件，可于電腦上設(shè)計程式、監(jiān)視試驗過程并執(zhí)行開關(guān)機等功能。 

●具有9點故障訊息提示，運轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況，即刻切斷電源，并于熒幕顯示故障原因。 
●可提供溫濕度線性直流信號輸出至溫濕度記錄器，以了解測試條件狀態(tài)，進而提高檢測信賴度。

 

冷凍及風路系統(tǒng)：
●制冷機采用德國谷輪半封閉或法國鐵甲武士全封閉壓縮機(二元式制冷方式），并使用環(huán)保冷媒(R134a,R404a,R23).

●冷凍系統(tǒng)采用單極或二元復(fù)疊制冷設(shè)計，二元復(fù)疊制冷于不同溫域采用不同壓縮機作功，以增加設(shè)備的作用壽命。

●利用高品質(zhì)軸流風機強力送風循環(huán)，避免任何死角，可使測試取內(nèi)溫濕度分布均勻。 
●風路循環(huán)采用側(cè)吹風，回風設(shè)計，風速，風壓皆符合試驗標準，并且在開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時間快?！裆郎亍⒔禍?、加濕、除濕系統(tǒng)*獨立，可提高效率、降低測試成本，增加整機壽命，減低故障率。

符合標準

1. 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程：試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2006（IEC68-2-2）

2. 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程：試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-2006（IEC68-2-3）

3. 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程：試驗Da: 交變濕熱試驗方法GB/T2423.4-93（IEC68-2-30）

4. GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗方法

5. GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法

6. GJB150.9-1986軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗

7. GJB4.5-1983船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗：恒定濕熱試驗

8. GJB4.6-1983船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗：交變濕熱試驗

9. GJB367.2-1987軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法：濕熱試驗

10. GB/T5170.2-96溫度試驗設(shè)備

11. GB/T5170.5-96濕度試驗設(shè)備

12. GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件

13. GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件

14. GB/T10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件

15. GB/T11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件